數(shù)字信號(hào)發(fā)生器SFE的基本應(yīng)用
點(diǎn)擊次數(shù)：650 更新時(shí)間：2021-11-22
數(shù)字信號(hào)發(fā)生器SFE是作為電子測(cè)量激勵(lì)源的信號(hào)來(lái)源。大多數(shù)電路要求某種幅度隨時(shí)間變化的輸入信號(hào)。信號(hào)可以是真實(shí)的雙極AC1信號(hào)(峰值在接地參考點(diǎn)上下振蕩)，也可以在DC偏置(可正可負(fù))范圍內(nèi)變化。它可以是正弦波或其它模擬函數(shù)、數(shù)字脈沖、二進(jìn)制碼型或純?nèi)我獠ㄐ巍Ｐ盘?hào)發(fā)生器可以提供“理想”的波形，它可以在其提供的信號(hào)中增加已知的、數(shù)量和類(lèi)型可重復(fù)的失真(或誤差)。這一特點(diǎn)是信號(hào)發(fā)生器的特點(diǎn)，因?yàn)橥ǔ２豢赡苤皇褂秒娐繁旧碓谒璧臅r(shí)間和地點(diǎn)創(chuàng)建可以預(yù)測(cè)的失真。在存在這些失真的信號(hào)時(shí)，DUT響應(yīng)可以揭示其處理落在正常性能條件外的極限情況。
數(shù)字信號(hào)發(fā)生器SFE的基本應(yīng)用：
檢驗(yàn)：
測(cè)試數(shù)字模塊化發(fā)射機(jī)和接收機(jī)
開(kāi)發(fā)新型發(fā)射機(jī)和接收機(jī)硬件的無(wú)線(xiàn)器件設(shè)計(jì)人員必須模擬基帶 I&Q信號(hào)，信號(hào)中可以帶損傷或不帶損傷，檢驗(yàn)其是否滿(mǎn)足新興的和專(zhuān)有的無(wú)線(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)。某些高性能任意波形發(fā)生器可以以高達(dá) 12.5 Gbps 的速率提供所需的低失真、高分辨率信號(hào)，并支持兩條獨(dú)立通道， 一條用于“I”相位，另一條用于“Q”相位。
有時(shí)，需要使用實(shí)際 RF信號(hào)測(cè)試接收機(jī)。在這種情況下，可以使用采樣率高達(dá)200MS/s的任意波形發(fā)生器， 直接合成 RF 信號(hào)。
檢定
測(cè)試數(shù)模轉(zhuǎn)換器和模數(shù)轉(zhuǎn)換器
新開(kāi)發(fā)的數(shù)模轉(zhuǎn)換器 (DAC) 和模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 必須進(jìn)行窮盡測(cè)試，以確定其線(xiàn)性度、單調(diào)性和失真的極限。AWG可以同時(shí)生成多個(gè)同相的模擬信號(hào)和數(shù)字信號(hào)，以高達(dá) 12.5 Gbps 的速度驅(qū)動(dòng)這些器件。
信號(hào)發(fā)生技術(shù)
可以通過(guò)多種方式，使用信號(hào)發(fā)生器創(chuàng)建波形。選擇的方法取決于提供的與 DUT 有關(guān)的信息及其輸入要求；是否需要增加失真或錯(cuò)誤信號(hào)及其它變量?，F(xiàn)代高性能信號(hào)發(fā)生器為生成波形至少提供了三種方式：
創(chuàng)建：全新的電路激勵(lì)和測(cè)試信號(hào)；
復(fù)制：合成沒(méi)有提供的實(shí)際環(huán)境信號(hào) ( 從示波器或邏輯分析儀中捕獲 )；
生成：理想的或極限測(cè)試的參考信號(hào)，適用于特定容限的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
